外觀與粉塵檢測濾光片(通稱表面缺陷檢測片、粉塵檢測濾片、黃綠光檢驗濾光片或高對比度目視檢測濾光鏡)係採用精密多層介電質干涉鍍膜或光學吸收技術製作之工業檢測專用光學元件,專為極化光源光譜、大幅提升表面瑕疵與微塵顆粒之對比度所設計。
功能說明:
人眼視覺對黃綠光波段(約 520–560 nm)具備最高之相對光譜發光效率(感光靈敏度 peak)。本濾光片能精準截取並過濾光源,將輸出光束調製為高純度、高銳利度之黃綠光。當強黃綠光照射於待測物表面時,機能性光學膜層能極大化表面微小刮痕、凹陷、異物、刮傷、氣泡、油污及微米級粉塵(Dust Particles)之漫反射散射光對比度,使檢驗人員或機器視覺系統於極短時間內清晰辨識極微小的表面缺陷。採用高平坦度、高耐熱光學玻璃基板(如 SCHOTT B270、Borofloat 33),結合真空電子槍蒸鍍技術(PVD-EBGE),具備高光通量穿透、高耐熱性(450°C–500°C)與優異之膜層附著力,適合長時間於高強度檢測強光燈下穩定運作。
應用領域:
半導體晶圓與封裝表面外觀檢測、晶片與玻璃基板(TGV / LCD / OLED / 觸控面板)粉塵與劃痕檢驗、光學鏡片與鍍膜表面缺陷目視檢查、無塵室高亮度外觀檢驗強光燈、汽車漆面與金屬加工件表面品檢,以及工業自動光學檢測(AOI 機器視覺)專用光源模組。
可供應材質、厚度及尺寸:
青板: 1.1mm
強化青板: 2.0, 3.0mm
耐熱: 1.1mm
方形: 8x8 - 310x320mm
圓形: Dia8 - 300mm
最高安全溫度:
青板:150℃
強化青板:250℃
耐熱:450℃
1. 外觀 / 粉塵檢測濾光片採用高階多層介電質薄膜真空蒸鍍而成,利用精密光學干涉原理將光源轉換為人眼感光最靈敏之黃綠光波段,顯著提升表面缺陷與粉塵之辨識對比度。
2. 鍍膜製程採用高階物理氣相沉積法之電子槍蒸鍍技術(PVD-EBGE / Physical Vapor Deposition-Electron Beam Gun Evaporation),薄膜緻密性高、光學吸收率極低,且具備優異之高耐熱性(450°C–500°C)與膜層附著力。
3. 標示之光譜穿透曲線均為垂直入射(入射角 0°,AOI=0°)下之光譜儀實際量測數據;非目標穿透波段係藉由干涉膜層高效率反射阻隔而非基材吸收。穿透光學波段與色彩會隨光線入射角度之變化而產生微幅偏移(藍移現象)。
4. 基板如需進行化學強化或物理強化處理,受限於加工物理特性有最小厚度、尺寸及幾何形狀限制,詳細規範請參考強化玻璃技術簡介。
5. 穿透與反射光譜曲線為生產樣品之實際測量結果,不同生產批次間可能存在微幅公差,但均嚴格控制於預設之黃綠光中心波長與光譜工程規格驗收標準內。
6. 網站標示規格僅供參考,實際交貨品質與驗收標準嚴格以雙方確認規格書(Specification Sheet)為準。
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